數(shù)控機床性試驗是性研究一個非常重要的環(huán)節(jié)，是對數(shù)控機床產品性水平進行分析和評價的一種方法。數(shù)控機床性試驗的目的是充分暴露產品在設計、制造和裝配過程中的各種缺陷，進而為產品性奠定基礎。性試驗按試驗場所的不同又可分為實驗室試驗和現(xiàn)場跟蹤試驗，按截尾方法分為定時截尾試驗和定數(shù)截尾試驗等。性試驗按試驗目的的不同可分為綜合試驗和工程試驗。性綜合試驗包括模擬加載性能試驗、加速壽命試驗及失效分析等研究內容。綜合試驗   先要設計制造試驗臺，其次根據(jù)產品性綜合試驗計劃安排試驗，根據(jù)的試驗結果，分析試驗條件、環(huán)境條件、失效模式、失效判據(jù)、任務剖面、試驗剖面、性能檢測點及檢測周期等，為產品設計改進提出建議。而工程試驗的研究內容包括設計環(huán)境應力加載方式與方法，進行篩選試驗，篩除早期故障，目的是迫使存在于產品中的會變成早期故障的缺陷提前變成故障，以便在產品投入現(xiàn)場使用前就加以糾正；通過統(tǒng)計模型、環(huán)境應力、應力水平、試驗順序研究，加速壽命試驗中設計額定應力   大值和設計應力   值研究，破壞性評估試驗中應力步進的步長研究。進行加速壽命試驗的目的是讓一臺或多臺試驗產品承受加強的環(huán)境應力，從而使失效顯現(xiàn)得比正常使用環(huán)境要快。
　　   初將性試驗技術應用在電子，起步較早。直到20世紀70年代后期，性試驗才逐步應用在機械產品。1977年，   JLC(聯(lián)合后勤司令部)成立了機械系統(tǒng)性試驗小組，主要研究機械設備的性試驗存在的問題，制定性試驗程序和規(guī)范，并發(fā)展新的性試驗方法。
　　國內的性試驗研究起步較晚，   初同樣是將性試驗技術應用于電子，自70年代末以來，開展了大量的壽命與性的研究工作。
　　現(xiàn)階段，數(shù)控機床性試驗主要是早期故障試驗及現(xiàn)場跟蹤試驗，前者的目的是激發(fā)產品的早期故障，并采取相應措施故障，而后者通過采集現(xiàn)場故障數(shù)據(jù)，為性增長及性設計提供數(shù)據(jù)基礎。